Duke標(biao)準(zhun)粒子(zi)（2000至9000尺度系列）

一、Duke 2000系列均勻(yun)尺度(du)聚(ju)合物標準(zhun)粒子(zi)

   NIST溯源(yuan)計量法測，苯乙烯(xi)-對(dui)苯二烯(xi)共(gong)聚物(wu)DVB尺(chi)(chi)度(du)標準微(wei)粒(li)，用于激(ji)光散(san)射儀(yi)器(qi)的驗(yan)證(zheng)。尺(chi)(chi)度(du)均(jun)勻的苯乙烯(xi)-對(dui)苯二烯(xi)共(gong)聚物(wu)微(wei)粒(li)，模擬(ni)真實環境中顆粒(li)物(wu)的分布狀況，用于標各類光散(san)射儀(yi)器(qi)。 

二、Duke 3000系(xi)列納米級尺(chi)度標準粒子

   具有高(gao)度(du)(du)的粒徑和極窄的標(biao)(biao)(biao)準偏(pian)差，適用(yong)于任何需要NIST溯源尺度(du)(du)標(biao)(biao)(biao)準的儀(yi)器標(biao)(biao)(biao)應(ying)用(yong)。Nanosphere納(na)米級尺度(du)(du)標(biao)(biao)(biao)準微(wei)粒具有高(gao)度(du)(du)的單分散性(xing)。粒徑尺度(du)(du)計量嚴(yan)格遵循(xun)NIST溯源測量程序(xu)， 其(qi)標(biao)(biao)(biao)度(du)(du)小于十億分之一米（1 納(na)米），或0.001微(wei)米。 

三、Duke 4000系(xi)列(lie)聚合物微球尺寸標準粒子

   本(ben)系列產品的尺度是通過(guo)NIST溯源(yuan)顯微(wei)鏡測量方(fang)法嚴(yan)格計量確(que)的。粒徑分布(bu)和均一(yi)性是采(cai)用(yong)阻抗分析儀和光學顯微(wei)鏡分析而(er)得到(dao)的。4000系列產品中粒徑為 1-160 μm的微(wei)粒是由聚苯(ben)乙烯(PS) 制成(cheng) 

四、Duke 5000 系(xi)列聚合物微粒懸(xuan)浮液

   本系列聚苯乙烯膠乳微粒(li)具(ju)有(you)一系列適(shi)于各種應用的粒(li)徑和性能(neng)。這些微粒(li)在膠體微粒(li)的范疇內具(ju)有(you)相對均一的粒(li)徑分(fen)布。本系列產品在粒(li)徑的測(ce)量(liang)方法(fa)學上，不具(ju)有(you)標精密儀器所(suo)要求的準確度，所(suo)以不適(shi)于儀器標和認證等(deng)應用。 

五、Duke 7000系列共聚物微粒懸浮(fu)液 

   大(da)(da)粒徑(jing)共聚物(wu)微粒水性懸浮液適于(yu)流體(ti)行為學實(shi)驗以(yi)及大(da)(da)孔徑(jing)過濾(lv)系統的(de)挑戰實(shi)驗。本(ben)系列(lie)聚苯乙烯膠乳(ru)微粒(li)(li)具(ju)有(you)一系列(lie)適于(yu)各種(zhong)應用的粒(li)(li)徑和(he)(he)性能(neng)。特別適用于(yu)過(guo)濾(lv)系統評估和(he)(he)檢測、大(da)孔徑過(guo)濾(lv)膜挑戰實驗、流體動力學和(he)(he)行為研(yan)究(jiu)、分散機理的研(yan)究(jiu)、聲學和(he)(he)光學分析實驗等諸多研(yan)發領(ling)域。

六、Duke 8000系列硅(gui)微球尺寸標準(zhun)粒子 

   NIST溯(su)源硅酸(suan)鹽(yan)微球尺度標準， 粒徑范(fan)圍 0.5 μm至(zhi)1.6 μm之間(jian)(jian)。本系(xi)列(lie)產品(pin)作(zuo)為(wei)單(dan)分散無機(ji)微球，用于儀(yi)器標和空隙間(jian)(jian)隔微球， 具有(you)高度的形態(tai)穩性(xing)和有(you)機(ji)溶(rong)劑耐受性(xing)。本系(xi)列(lie)產品(pin)是為(wei)了(le)需(xu)要單(dan)分散無機(ji)微球的應用而設計的。

七、Duke 9000系(xi)列玻璃微球(qiu)尺寸(cun)標準(zhun)粒子 

   NIST溯(su)源均(jun)勻粒徑玻(bo)璃(li)(li)干粉微球(qiu)，粒徑范圍2 μm至2000 μm。9000系列(lie)玻(bo)璃(li)(li)微球(qiu)用于任何不適于使用聚合物微球(qiu)的儀器標應用。本系列(lie)產(chan)品具(ju)有單一的粒徑分布并(bing)通過嚴格的NIST溯(su)源測量過程。